關于半導體相關測試

　　半導(dao)(dao)體(ti)是一種常溫下導(dao)(dao)電(dian)性能介于導(dao)(dao)體(ti)與絕緣體(ti)之間的(de)材料(liao)，它在集成電(dian)路、消(xiao)費電(dian)子、通信系(xi)統(tong)、光伏發電(dian)等眾多領域中都有應用(yong)，作為大(da)部分電(dian)子產品核心單(dan)元需(xu)用(yong)到的(de)材料(liao)，它的(de)質量直接影響(xiang)著整(zheng)個(ge)系(xi)統(tong)運行(xing)。

　　功率放大器作為半導體測試系統中的重要組成部分，在半導體測試領域研究中起著至關重要的作用。本次Aigtek安泰電子將過往部分半導體測試(shi)方向的(de)實驗案例(li)編輯為合集，希望(wang)能對廣(guang)大半導體領域的(de)各位朋友有所幫助。

　　實驗案例展示

　　▼功(gong)率放大器在電容器內LED的高壓與無線(xian)驅動應(ying)用

　　本實(shi)驗中，研究人員在摩擦(ca)納米發(fa)(fa)電(dian)機(ji)(ji)TENG的(de)啟發(fa)(fa)下，提(ti)出了一(yi)種電(dian)容(rong)器(qi)(qi)內(nei)LED器(qi)(qi)件，采用信號發(fa)(fa)生器(qi)(qi)經過功率放大器(qi)(qi)提(ti)供的(de)信號測試(shi)，并將其與摩擦(ca)納米發(fa)(fa)電(dian)機(ji)(ji)輸出進行(xing)對比，詳細解(jie)釋(shi)了TENG驅(qu)動LED的(de)工作(zuo)機(ji)(ji)理，并提(ti)出一(yi)種電(dian)容(rong)器(qi)(qi)內(nei)LED結構，促進TENG與交(jiao)流LED的(de)發(fa)(fa)展。

　　▼功率放大器(qi)在非導體接觸式μLED器(qi)件光(guang)電特性研(yan)究中的(de)應用

　　本實驗依據GaN基微(wei)發(fa)光二極管(μLEDs)在(zai)超高分辨率顯(xian)示、微(wei)顯(xian)示、可見光通信、固態照明等方(fang)面(mian)有(you)突(tu)出的(de)(de)優(you)勢，建(jian)立了非(fei)導(dao)體接觸式μLED模(mo)型，制備出相應的(de)(de)器件。針對這種新型結構的(de)(de)μLED，研(yan)究(jiu)其在(zai)交流信號(hao)驅動(dong)下的(de)(de)頻(pin)率-電(dian)壓、電(dian)流-電(dian)壓，發(fa)光強(qiang)度等光電(dian)特性及其工(gong)作機理，為改(gai)善μLED器件結構、優(you)化工(gong)作模(mo)式提供理論指導(dao)。

　　▼高壓功(gong)率放大器(qi)在(zai)核磁共振(zhen)振(zhen)蕩器(qi)中的應用

　　本實驗(yan)(yan)提出(chu)(chu)了測(ce)量橫向(xiang)弛豫時間τ2的方(fang)法，通過施加x軸方(fang)向(xiang)的掃頻磁場，然后(hou)測(ce)量磁力儀在(zai)x軸方(fang)向(xiang)的幅頻響應(ying)曲(qu)線，最后(hou)由幅頻響應(ying)曲(qu)線的3dB帶寬來(lai)得到τ2。實驗(yan)(yan)給出(chu)(chu)了基于微擾-迭代方(fang)法的詳細和(he)嚴格的理論(lun)推導來(lai)論(lun)證(zheng)此測(ce)量方(fang)法的合理性。然后(hou)，進行了仿真實驗(yan)(yan)和(he)實際實驗(yan)(yan)，結果可以驗(yan)(yan)證(zheng)此測(ce)量方(fang)法的有效(xiao)性和(he)高準確性。

　　▼功率(lv)放(fang)大(da)器(qi)在大(da)功率(lv)脈(mo)沖電能源研究(jiu)中的(de)應用

　　本實驗為了(le)在傳(chuan)統的(de)測量(liang)精(jing)(jing)度(du)校準(zhun)(zhun)方法的(de)基礎上(shang)，進(jin)(jin)一步提升校準(zhun)(zhun)精(jing)(jing)度(du)，針對大功(gong)率(lv)脈(mo)沖電流(liu)測量(liang)傳(chuan)感(gan)器(qi)(qi)測量(liang)精(jing)(jing)度(du)的(de)問題，提出一種高精(jing)(jing)度(du)的(de)校準(zhun)(zhun)方法。搭建大功(gong)率(lv)脈(mo)沖電流(liu)測量(liang)系(xi)統的(de)實驗平臺，通(tong)過實驗驗證(zheng)大功(gong)率(lv)脈(mo)沖電流(liu)測量(liang)傳(chuan)感(gan)器(qi)(qi)的(de)性(xing)能，主(zhu)要(yao)對大功(gong)率(lv)脈(mo)沖電流(liu)測量(liang)傳(chuan)感(gan)器(qi)(qi)的(de)精(jing)(jing)度(du)、穩定性(xing)、響(xiang)應時間和電流(liu)幅值(zhi)測量(liang)范圍進(jin)(jin)行驗證(zheng)。

　　▼高壓放大器在多波長干(gan)涉相(xiang)位同步解調方法研(yan)究中的應用

　　本實驗(yan)(yan)研究了(le)(le)基于激(ji)光相位(wei)(wei)分(fen)立(li)調(diao)(diao)制的(de)多波(bo)(bo)長干涉相位(wei)(wei)同步(bu)(bu)解(jie)調(diao)(diao)方法，對FDM雙(shuang)(shuang)波(bo)(bo)長干涉相位(wei)(wei)同步(bu)(bu)解(jie)調(diao)(diao)方法，進行(xing)了(le)(le)仿真分(fen)析及(ji)實驗(yan)(yan)驗(yan)(yan)證(zheng)。搭建(jian)了(le)(le)所提出的(de)FDM雙(shuang)(shuang)波(bo)(bo)長干涉測量(liang)(liang)光路，進行(xing)了(le)(le)系統(tong)穩定性實驗(yan)(yan)、納米(mi)級(ji)位(wei)(wei)移(yi)測量(liang)(liang)實驗(yan)(yan)、納米(mi)級(ji)步(bu)(bu)進非(fei)線(xian)性誤差實驗(yan)(yan)、兩位(wei)(wei)位(wei)(wei)移(yi)解(jie)調(diao)(diao)同步(bu)(bu)性實驗(yan)(yan)、動態相位(wei)(wei)解(jie)調(diao)(diao)實驗(yan)(yan)。

西安安泰電子是(shi)專業從(cong)事功率放(fang)大器、高壓放大器、功率放大器模塊、功率信號源(yuan)、射頻功(gong)率放大器(qi)、前置微小(xiao)信號放大(da)器、高精度(du)電壓源、高精度(du)電(dian)流(liu)源等電(dian)子測量儀(yi)器研發、生產和銷售的(de)高科技企業，為用(yong)戶提供具有(you)競(jing)爭力的(de)測試(shi)方(fang)案。Aigtek已經成為在業界擁有(you)廣(guang)泛(fan)產品線，且具有(you)相當規模的(de)儀(yi)器設備供應(ying)商，樣機都支持免費(fei)試(shi)用(yong)。如想了(le)解更多功率(lv)放(fang)大器等產品，請(qing)持續關(guan)注安泰電子官網(wang)hkdyw.cn或撥(bo)打029-88865020。