實(shi)驗名稱：量子點薄膜的非接觸(chu)無(wu)損原(yuan)位(wei)檢(jian)測

　　實驗(yan)內容：量(liang)子(zi)(zi)點(dian)薄(bo)(bo)膜(mo)作為核心功能層，在發(fa)光(guang)二極(ji)管、顯(xian)示器(qi)等多種光(guang)電器(qi)件(jian)(jian)中起著(zhu)關鍵作用(yong)。量(liang)子(zi)(zi)點(dian)薄(bo)(bo)膜(mo)厚度(du)的(de)(de)不均(jun)勻性必(bi)然會影響(xiang)器(qi)件(jian)(jian)的(de)(de)整體光(guang)電特性。然而，傳統的(de)(de)方法很難在不引(yin)入額外損傷的(de)(de)情況(kuang)下(xia)快速獲得其厚度(du)分布的(de)(de)相關信息(xi)。本文提出了一種非(fei)接觸式(shi)無(wu)損檢測量(liang)子(zi)(zi)點(dian)薄(bo)(bo)膜(mo)厚度(du)的(de)(de)方法。在高電場作用(yong)下(xia)，量(liang)子(zi)(zi)點(dian)薄(bo)(bo)膜(mo)會發(fa)生(sheng)光(guang)致(zhi)發(fa)光(guang)猝滅(mie)現(xian)象，這與量(liang)子(zi)(zi)點(dian)薄(bo)(bo)膜(mo)的(de)(de)厚度(du)以及施加的(de)(de)電壓大(da)小有關。

　　研究方向：光電器件(jian)的工藝檢(jian)測

　　測(ce)試(shi)設備：ATA-7025高壓放(fang)大器、位移臺，光學(xue)夾具(ju)，金屬探針，信(xin)號發(fa)生(sheng)器等。

　　實驗過程：

　　在紫外UV燈激發(fa)(fa)量子點(dian)(dian)薄(bo)膜(mo)光(guang)致發(fa)(fa)光(guang)后(hou)，在金屬探針上施加(jia)由功率(lv)放(fang)大(da)器ATA-7025放(fang)大(da)后(hou)的(de)(de)高壓正弦信號，并將電(dian)壓加(jia)在量子點(dian)(dian)薄(bo)膜(mo)兩端。隨后(hou)觀(guan)察(cha)量子點(dian)(dian)薄(bo)膜(mo)的(de)(de)光(guang)致發(fa)(fa)光(guang)光(guang)譜變化情況(kuang)，研究施加(jia)的(de)(de)電(dian)壓大(da)小以及量子點(dian)(dian)薄(bo)膜(mo)厚度(du)對于猝(cu)滅程度(du)的(de)(de)影響。而對于量子點(dian)(dian)薄(bo)膜(mo)陣列，通過CCD攝像(xiang)系(xi)統采集施加(jia)電(dian)壓前后(hou)的(de)(de)發(fa)(fa)光(guang)圖像(xiang)并進行圖像(xiang)處理，觀(guan)察(cha)不同厚度(du)像(xiang)素的(de)(de)發(fa)(fa)光(guang)強度(du)變化情況(kuang)。

　　實驗結果：

　　通過(guo)(guo)改變(bian)施加在(zai)(zai)量子點(dian)(dian)(dian)薄膜(mo)(mo)上的電(dian)(dian)壓，從(cong)而能夠觀(guan)察(cha)(cha)其光(guang)致(zhi)發(fa)光(guang)的猝(cu)滅程(cheng)度(du)情況。在(zai)(zai)2800Vpp-4000Vpp的電(dian)(dian)壓范圍內，隨(sui)著電(dian)(dian)壓升(sheng)高，量子點(dian)(dian)(dian)薄膜(mo)(mo)的猝(cu)滅程(cheng)度(du)逐漸增大。此外，將猝(cu)滅效(xiao)率作為施加電(dian)(dian)壓的函(han)數進(jin)行擬合(he)，可(ke)以(yi)看(kan)出擬合(he)效(xiao)果較好，說明量子點(dian)(dian)(dian)薄膜(mo)(mo)的光(guang)致(zhi)發(fa)光(guang)猝(cu)滅程(cheng)度(du)與施加的電(dian)(dian)壓大小存在(zai)(zai)某(mou)種函(han)數關系。根據這種實驗(yan)規律(lv)，對于具有(you)不同(tong)厚度(du)的量子點(dian)(dian)(dian)薄膜(mo)(mo)陣列，可(ke)以(yi)通過(guo)(guo)觀(guan)察(cha)(cha)其光(guang)致(zhi)發(fa)光(guang)顯(xian)微圖像的變(bian)化來可(ke)視化量子點(dian)(dian)(dian)薄膜(mo)(mo)的厚度(du)信息。

　　功率放大器(qi)推薦：ATA-7025高壓(ya)放大器(qi)

　　圖：ATA-7025高壓放大器指標參數

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