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ATA-P2010功率放大器在新控制策略下撞擊式壓電噴射閥點膠性能測試中的應用

作者:Aigtek 閱讀數:0 發布時間(jian):2025-02-09 17:15:10
實驗名稱:

ATA-P2010功率放(fang)大器在新控制策略下撞擊式壓電噴射閥點膠性能測試中的應用

實驗方向:

封裝技術

實驗設備:

ATA-P2010功(gong)率放大器信號發生器、撞擊(ji)式壓電噴射閥、高精(jing)度(du)電子(zi)秤和顯微鏡

實驗目的:

通(tong)過功率放大(da)器驅動壓電(dian)噴(pen)(pen)射(she)系統,驗證撞擊式壓電(dian)噴(pen)(pen)射(she)閥在不(bu)同控(kong)制策略下(xia)膠點質(zhi)量、氣泡含量等(deng)點膠性能。

撞擊式壓電噴射閥點膠性能測試

實驗過程:




為了(le)評估膠粘(zhan)劑在(zai)不同(tong)控(kong)制(zhi)策(ce)略(lve)下的(de)(de)分配性能,包括(kuo)液(ye)滴體(ti)積和(he)氣(qi)泡(pao)含量(liang),本(ben)研究(jiu)構建了(le)撞擊式(shi)壓電(dian)噴(pen)射系(xi)(xi)統(tong)的(de)(de)新控(kong)制(zhi)策(ce)略(lve)實(shi)驗平臺,如圖5.9所(suo)示。該平臺包括(kuo)控(kong)制(zhi)系(xi)(xi)統(tong)、撞針式(shi)壓電(dian)噴(pen)射系(xi)(xi)統(tong)、視覺(jue)系(xi)(xi)統(tong)和(he)奧林巴(ba)斯STM7測量(liang)顯微鏡。控(kong)制(zhi)系(xi)(xi)統(tong)由波(bo)形(xing)發(fa)生器、功(gong)率(lv)放大器(ATA-P2010,Aigtek,China)組成(cheng),可以在(zai)20 kHz下實(shi)現(xian)-20V~130V的(de)(de)高頻(pin)率(lv)寬(kuan)電(dian)壓輸(shu)出。


ATA-P2010功率放大器在新控制策略下撞擊式壓電噴射閥點膠性能測試實驗


視覺系(xi)統包(bao)括(kuo)包(bao)括(kuo)一臺(tai)高(gao)速(su)(su)攝像機、高(gao)亮LED光(guang)源、視頻顯(xian)示(shi)器、撞針式壓(ya)電噴射系(xi)統、微距(特(te)寫)鏡頭和固定支架(jia)。為了(le)取得良好的拍攝效(xiao)果,相機/鏡頭和高(gao)光(guang)LED燈(deng)軸(zhou)被定位在(zai)略微傾斜的角度(du)。其中,該攝像機是(shi)通過(guo)特(te)寫鏡頭觀察噴嘴處的液滴噴射與回吸過(guo)程的清晰(xi)圖像,并(bing)可通過(guo)i-SPEED Suite 2.0軟(ruan)件對高(gao)速(su)(su)視頻進(jin)行捕(bu)捉(zhuo)和分析。


實驗結果:

通過實驗(yan)驗(yan)證優化(hua)后的貝塞爾波形所造成(cheng)的空氣回吸(xi)相比(bi)于傳統波形得到改(gai)善,并且氣泡(pao)個數明(ming)顯減少。


ATA-P2010功率放大器在新控制策略下撞擊式壓電噴射閥點膠性能測試實驗結果1


同(tong)時傳(chuan)統控制策略的(de)膠點(dian)長度和高度值方差比優化控制策略的(de)要大,優化后的(de)控制策略能更(geng)好的(de)保證膠點(dian)的(de)穩定(ding)性和一(yi)致性。


ATA-P2010功率放大器在新控制策略下撞擊式壓電噴射閥點膠性能測試實驗結果2



實驗中用到的(de)ATA-P2010功(gong)率放(fang)大器的(de)參數指標:

ATA-P2010功率放大器的指標參數


原文鏈接://hkdyw.cn/news/4332.html
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