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什么是電磁兼容性測試EMC?有什么作用?

作者:Aigtek 閱讀數:0 發布時間:2022-04-13 00:00:00

EMC 是(或(huo)合規(gui)性)的(de)(de)(de)首字母縮(suo)寫詞。所有電(dian)(dian)(dian)(dian)子設(she)(she)備(bei)(bei)都有可(ke)能發(fa)(fa)射電(dian)(dian)(dian)(dian)磁場并容易受(shou)到電(dian)(dian)(dian)(dian)磁場的(de)(de)(de)影(ying)響。隨(sui)著電(dian)(dian)(dian)(dian)子設(she)(she)備(bei)(bei)在(zai)日常生(sheng)活中的(de)(de)(de)不斷增加,設(she)(she)備(bei)(bei)之(zhi)間存在(zai)巨大(da)的(de)(de)(de)相互(hu)干擾潛(qian)力(li)。除非考慮到所有 EMC 方(fang)面,否則任何電(dian)(dian)(dian)(dian)氣產品(pin)或(huo)安裝設(she)(she)計都不能被(bei)認為是完(wan)整的(de)(de)(de)。這不僅對(dui)電(dian)(dian)(dian)(dian)視機(ji)、電(dian)(dian)(dian)(dian)腦、洗衣機(ji)等常用的(de)(de)(de)消費產品(pin)很(hen)重要(yao);它(ta)對(dui)于車(che)(che)輛(liang)、飛(fei)機(ji)、船舶和大(da)型工業裝置等大(da)型商業產品(pin)尤其重要(yao)。如(ru)果沒(mei)有標準(zhun)化的(de)(de)(de) EMC 測試,在(zai)航空(kong)或(huo)汽車(che)(che)應用等情況下(xia),由(you)于 EMC 干擾導(dao)致(zhi)的(de)(de)(de)設(she)(she)備(bei)(bei)故障后果可(ke)能是災難性的(de)(de)(de),危(wei)及生(sheng)命和安全的(de)(de)(de)地方(fang)。例如(ru),來自您手機(ji)的(de)(de)(de)信(xin)號(hao)干擾空(kong)中交(jiao)通管(guan)制(zhi)塔臺的(de)(de)(de)信(xin)號(hao),或(huo)影(ying)響車(che)(che)輛(liang)發(fa)(fa)動(dong)機(ji)控制(zhi)或(huo)制(zhi)動(dong)系統電(dian)(dian)(dian)(dian)子設(she)(she)備(bei)(bei)運行(xing)的(de)(de)(de)交(jiao)通雷(lei)達。

EMC測試(shi)可(ke)以(yi)(yi)分為兩大類;抗(kang)擾度測試(shi)(也(ye)稱(cheng)為敏感性(xing))和(he)排放測試(shi)。抗(kang)擾度測試(shi)測試(shi)產(chan)品(pin)在(zai)受(shou)到外(wai)部信(xin)號(hao)(hao)(hao)時正(zheng)常運行的(de)能力。該測試(shi)確認產(chan)品(pin)仍然(ran)可(ke)以(yi)(yi)正(zheng)常工(gong)作,即使附(fu)近有其(qi)他信(xin)號(hao)(hao)(hao)。排放測試(shi)測量產(chan)品(pin)產(chan)生和(he)無意發(fa)射的(de)信(xin)號(hao)(hao)(hao)的(de)大小;這些是產(chan)品(pin)發(fa)出的(de)有害(hai)信(xin)號(hao)(hao)(hao),可(ke)能會(hui)影響附(fu)近的(de)其(qi)他電子設備。

抗(kang)擾度和發(fa)射(she)(she)(she)(she)測(ce)試類(lei)別(bie)還可以細分為輻(fu)射(she)(she)(she)(she)和傳(chuan)(chuan)導(dao)測(ce)試方(fang)法(fa)。輻(fu)射(she)(she)(she)(she)抗(kang)擾度測(ce)試包括使(shi)產品受(shou)到(dao)天線輻(fu)射(she)(she)(she)(she)的外部信(xin)號的影響(xiang)。傳(chuan)(chuan)導(dao)抗(kang)擾度測(ce)試是通(tong)過(guo)(guo)將信(xin)號注入電(dian)纜來執行的,電(dian)纜將這些信(xin)號傳(chuan)(chuan)導(dao)到(dao)產品中。以類(lei)似(si)的方(fang)式,輻(fu)射(she)(she)(she)(she)發(fa)射(she)(she)(she)(she)測(ce)量產品的發(fa)射(she)(she)(she)(she),而傳(chuan)(chuan)導(dao)發(fa)射(she)(she)(she)(she)測(ce)量通(tong)過(guo)(guo)電(dian)纜引導(dao)的產品的發(fa)射(she)(she)(she)(she)。

EMC 測(ce)(ce)試是產(chan)(chan)品(pin)開發周期中(zhong)的(de)必要(yao)步驟(zou),因(yin)為它(ta)可(ke)以(yi)證(zheng)明您的(de)產(chan)(chan)品(pin)符合相關的(de) EMC 法規和指令。在一個(ge)成功的(de)測(ce)(ce)試計劃之(zhi)后(hou),可(ke)以(yi)確信的(de)產(chan)(chan)品(pin)的(de)可(ke)靠(kao)性(xing),從而(er)減少保修問題(ti)(ti)、維修成本并鼓(gu)勵品(pin)牌忠(zhong)誠(cheng)度。測(ce)(ce)試還突出了可(ke)以(yi)在生產(chan)(chan)前修復的(de)產(chan)(chan)品(pin)的(de)潛在問題(ti)(ti)或問題(ti)(ti)。

本文有關知識(shi)科普由西(xi)安安泰電(dian)子發布(bu),Aigtek是國內專業從事測量儀器研發、生產和銷售的高科技企業,一直專注于功率放大器功率信號源功率放大模塊、計量校準源等測試儀器產品的研發與制造。通過以上的介紹,相信您對射頻測試有了清晰的了解,如想了解更多有關相關科普,請持續關注安泰電子官網hkdyw.cn或撥打029-88865020。


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