雙脈沖是分析功率開關(guan)器件動態特(te)性(xing)的(de)基(ji)礎實(shi)驗(yan)方(fang)法(fa)，貫穿器件的(de)研發，應用和驅動保護電(dian)路的(de)設計。今天Aigtek安泰電子就帶你揭秘。

為什么(me)要進行雙脈沖測試？在(zai)以前甚至是今天，許多使(shi)用IGBT或者MOSFET做逆變器的(de)(de)(de)工程師(shi)是不(bu)(bu)做雙脈沖(chong)實驗的(de)(de)(de)，而是直接(jie)在標定的(de)(de)(de)工況(kuang)下跑(pao)看能(neng)否達到設計的(de)(de)(de)功率。這(zhe)樣的(de)(de)(de)測(ce)試確實很必要(yao)，但是往往這(zhe)樣看不(bu)(bu)出(chu)具體的(de)(de)(de)開關(guan)損耗，電(dian)壓(ya)(ya)或(huo)者電(dian)流的(de)(de)(de)尖峰情(qing)況(kuang)，以及寄生導通情(qing)況(kuang)。這(zhe)會(hui)導致對(dui)有(you)些風險(xian)的(de)(de)(de)認識出(chu)現(xian)盲點，進而影(ying)響(xiang)最后產(chan)品未來(lai)的(de)(de)(de)長期(qi)可靠性。又或(huo)者設計裕量過大(da)帶來(lai)成本增加，使得(de)產(chan)品的(de)(de)(de)市場競爭力(li)下降。如(ru)果能(neng)在設計研發(fa)階段(duan)，精準(zhun)地了解器件(jian)的(de)(de)(de)開關(guan)性能(neng)，將對(dui)整(zheng)個產(chan)品的(de)(de)(de)優化帶來(lai)極大(da)的(de)(de)(de)好處。比如(ru)能(neng)在不(bu)(bu)同(tong)的(de)(de)(de)電(dian)壓(ya)(ya)、電(dian)流和溫度(du)下獲(huo)得(de)開關(guan)損耗，給(gei)系(xi)統仿真(zhen)提供可靠的(de)(de)(de)數據；又比如(ru)可以通過觀察波(bo)形振蕩情(qing)況(kuang)來(lai)選擇合(he)適的(de)(de)(de)門極電(dian)阻。

雙脈(mo)沖測試(shi)原(yuan)理。顧(gu)名思義(yi)，雙(shuang)脈(mo)(mo)沖測試就是給被測器件兩個(ge)(ge)(ge)脈(mo)(mo)沖作(zuo)(zuo)為驅(qu)動控制信號，如圖(tu)所示(shi)。第(di)(di)一個(ge)(ge)(ge)脈(mo)(mo)沖相對較寬，以獲得一定的(de)(de)電流。同時第(di)(di)一個(ge)(ge)(ge)脈(mo)(mo)沖的(de)(de)下降沿作(zuo)(zuo)為關斷過(guo)程(cheng)的(de)(de)觀測時刻(ke)，而第(di)(di)二個(ge)(ge)(ge)脈(mo)(mo)沖的(de)(de)上升(sheng)沿則作(zuo)(zuo)為開通過(guo)程(cheng)的(de)(de)觀測時刻(ke)。

雙脈沖(chong)測(ce)試非常適合研發階段對器件在系統上的(de)(de)(de)(de)損耗(hao)評估，為系統仿(fang)真帶(dai)來數據支持。畢(bi)竟有太多的(de)(de)(de)(de)因(yin)素會(hui)使實際值(zhi)和數據規格(ge)產生很大差別，用規格(ge)書(shu)上的(de)(de)(de)(de)值(zhi)做為仿(fang)真依據粗糙(cao)了些(xie)，當然器件選型的(de)(de)(de)(de)時(shi)候(hou)還是很值(zhi)得借鑒的(de)(de)(de)(de)。

本文(wen)有關雙(shuang)脈(mo)沖(chong)測試知識科普由西(xi)安安泰電(dian)子(zi)發(fa)布，Aigtek是國內專業從事測量儀器研發、生產和銷售的高科技企業，一直專注于功率放大(da)器、功率信號源、功率放大模塊、計量校準源等測試儀器產品的研發與制造。如想了解更多有關相關科普，請持續關注安泰電(dian)子官網(wang)hkdyw.cn或撥打029-88865020。