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ATA-2041高壓放大器在IDEs柱狀壓電元件研究中的應用

作者:Aigtek 閱讀數:0 發布時間:2024-05-14 13:52:35

  實驗名稱:位移檢測試驗研究

  測試目的:對(dui)IDEs柱(zhu)狀壓(ya)電(dian)(dian)(dian)元件(jian)(jian)施加激勵信號(hao),由于逆壓(ya)電(dian)(dian)(dian)效應,壓(ya)電(dian)(dian)(dian)元件(jian)(jian)沿(yan)極化方向(xiang)產生伸縮變(bian)形,位(wei)移(yi)值大(da)小(xiao)取決于激勵信號(hao)的(de)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)值與(yu)信號(hao)波形及激勵頻率。為了更深(shen)層(ceng)次的(de)研究(jiu)IDEs柱(zhu)狀壓(ya)電(dian)(dian)(dian)元件(jian)(jian)的(de)驅(qu)動性能,將采用不同激勵信號(hao)驅(qu)動該壓(ya)電(dian)(dian)(dian)元件(jian)(jian),提取軸向(xiang)位(wei)移(yi)數據,繪制時域圖與(yu)響應圖,確定一種(zhong)最優激勵信號(hao)及頻率。

  測試設備:ATA-2041高壓放大器(qi)、函數發生(sheng)器(qi)、示波器(qi)、交換機、計算機等。

位移檢測平臺

  圖(tu)1:位移檢測平臺(1.任(ren)意(yi)函(han)數發生器(qi)2.計算機3.交換機4.光譜(pu)共焦控(kong)制器(qi)5.待測IDEs柱(zhu)狀壓(ya)(ya)電(dian)(dian)元件6.十萬級減震臺7.探頭8.電(dian)(dian)壓(ya)(ya)放大器(qi)9.示(shi)波器(qi))

  實驗過程:

  搭(da)建位移檢(jian)測(ce)平臺,信號激(ji)勵源采用任意(yi)函(han)數發生器,經過(guo)西安安泰公司的(de)ATA-2041高壓放大器后,一端(duan)(duan)與待測(ce)IDEs柱狀壓電元件正負(fu)極電性連(lian)接,用于激(ji)勵電壓輸入(ru),另一端(duan)(duan)連(lian)接示波器,用于觀(guan)察(cha)激(ji)勵信號的(de)波形曲(qu)線及參數變化。

  將該壓電元件(jian)置于減(jian)震臺上,正負電極與電子高壓放大器電性(xing)連接。

  在電壓為0V-200V頻(pin)率為1Hz、10Hz、30Hz、50Hz、70Hz激勵下(xia),對(dui)該壓電元件施加(jia)正(zheng)弦波(bo)(bo)、方波(bo)(bo)、鋸齒波(bo)(bo)、脈(mo)沖波(bo)(bo)四種(zhong)信號,如圖(tu)2所示(shi)。

施加激勵信號

  圖2:施加激(ji)勵信(xin)號

  實驗結果:

各激勵信號下的位移響應

  圖3:各激勵(li)信號下(xia)的位(wei)移(yi)響應

  試驗結(jie)果多處出(chu)(chu)現噪(zao)音夾雜現象。究其原因(yin)(yin):其一(yi),由于(yu)柱狀壓(ya)(ya)電陶瓷在壓(ya)(ya)片、燒結(jie)、打磨等環節,因(yin)(yin)為人工原因(yin)(yin)導致的(de)裂縫、內部(bu)氣泡等現象,降低(di)了(le)該壓(ya)(ya)電元(yuan)件的(de)致密度(du)。電極(ji)印刷(shua)時(shi),銀膠通過網孔附著在柱狀壓(ya)(ya)電陶瓷表面(mian),撤網后,線徑與(yu)銀膠貼合部(bu)分出(chu)(chu)現凹凸(tu)不(bu)平(ping)的(de)小山峰現象。這(zhe)些(xie)原因(yin)(yin)間接的(de)改變了(le)該壓(ya)(ya)電元(yuan)件自(zi)身(shen)結(jie)構(gou),是誘使內部(bu)噪(zao)聲產生的(de)根(gen)本(ben)。其二,位(wei)移(yi)數(shu)據量綱僅限(xian)于(yu)微(wei)米級,因(yin)(yin)此進行數(shu)據提取時(shi),電路電壓(ya)(ya)波動甚至是大自(zi)然的(de)任何一(yi)種能量波都能對(dui)測量結(jie)果造成干(gan)擾,可見測量環境(jing)對(dui)數(shu)據結(jie)果也存在較大影響。

  高(gao)壓(ya)放大器推薦:ATA-2041

ATA-2041高壓放大器指標參數

  圖:ATA-2041高壓放大器指標參數

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